Interferometr Fizeau


Interferometr Fizeau w encyklopedii

Z Wikipedii, wolnej encyklopedii Przejdź do nawigacji Przejdź do wyszukiwania Schemat interferometru Fizeau

Interferometr Fizeau jest to interferometr dwuwiązkowy, wspólnej drogi, z podziałem amplitudy. Najczęściej jest używany do pomiaru kształtu powierzchni bądź jednorodności materiału. Jego działanie polega na interferencji dwóch fal odbitych od powierzchni referencyjnej oraz od powierzchni badanej. W zależności od różnicy dróg optycznych między promieniami otrzymujemy prążki interferencyjne.

Sposób działania | edytuj kod

Światło z quasi-monochromatycznego źródła, najczęściej lasera, przechodzi przez przesłonę otworkową i pada na kolimator, który zapewnia równoległość promieni w układzie pomiarowym. Następnie ulega odbiciu od powierzchni i wraca tą samą drogą, odbijając się od płytki światłodzielącej i tworzy obraz interferencji odbitych fal.

Fale odbijają się od każdej powierzchni na którą trafią, dlatego wzorzec zazwyczaj jest delikatnym klinem, aby odbijające się od niego światło nie zakłócało pomiaru. W przypadku pomiaru kształtu powierzchni obserwatora interesuje interferencja fali odbitej od dolnej powierzchni wzorca, będącej powierzchnią referencyjną, z falą odbitą od badanej powierzchni. Obserwator obserwuje prążki interferencyjne będące wynikiem różnicy dróg optycznych wynikających z kształtu powierzchni badanej. Obserwowane prążki odpowiadają poziomicom, czyli w przypadku wypukłości lub wklęsłości obserwuje się prążki kołowe, zaś w przypadku pochylenia powierzchni prążki równoległe.

Wysokość H badanego defektu możemy wyliczyć ze wzoru:
h = λ S 2 {\displaystyle h={\frac {\lambda S}{2}}}
gdzie:

  • λ – długość fali
  • S – ilość prążków


Interferometr Fizeau pozwala również zmierzyć nieliniowe zmiany współczynnika załamania w szklanej płytce. Można to wykonać rejestrując 3 obrazy prążkowe – interferencji każdej z powierzchni z powierzchnią wzorca oraz jeden dla promienia odbitego od dolnej powierzchni po przejściu przez płytkę. Analiza tych trzech obrazów pozwala nam na wyznaczenie niejednorodności współczynnika załamania.

Zobacz też | edytuj kod

Bibliografia | edytuj kod

  • Romuald Jóźwicki: Podstawy inżynierii fotonicznej. Warszawa: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2006. ISBN 83-7207-635-9.
  • Romuald Jóźwicki: Optyka Instrumentalna. Warszawa: WNT, 1970.
Na podstawie artykułu: "Interferometr Fizeau" pochodzącego z Wikipedii
OryginałEdytujHistoria i autorzy